CN:36-1239/TH

ISSN:1672-3872

半月刊

JST日本科学技术振新机构数据库(日)(2022)

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基于 LK8820 平台的数字芯片性能测试方案设计

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DOI:10.3969/j.issn.1672-3872.2024.02.044

基金项目:2022年度江西省教育厅科学技术研究项目(GJJ2206712)

作  者:付 裕1 ,徐永琪2 (1. 江西省机械高级技工学校(江西机电职业技术学院),江西 南昌 330013; 2. 南昌县中等专业学校,江西 南昌 330052)

 

摘 要:【目的】对电路成品进行全面的电路性能检测,挑选出合格的成品芯片,保障芯片在任何环境下都可以维持设计规格书上所预期的功能及性能,避免不合格的芯片流入市场。【方法】课题组以74HC138芯片为例,提出了一种基于LK8820平台的数字芯片性能测试方法,通过对74HC138芯片引脚进行功能分析,搭建了测试硬件电路,编写了测试程序,并利用LK8820测试平台对74HC138芯片引脚进行了开短路测试和输入高低电平测试。【结果】14个引脚的对地开短路测试结果都在允许的 范围内,异常数为0;6个输入引脚的输入高电平测试结果和输入低电平测试结果均在有效值范围内,异常数为0,验证了该数字芯片开短路测试和输入高低电平测试方案的有效性。【结论】该方法也适用于其他数字芯片的开短路测试和输入高低电平测试,具有推广价值。

关键词:LK8820平台;74HC138芯片;性能测试;方案设计

 

引文信息:[1]付裕,徐永琪.基于LK8820平台的数字芯片性能测试方案设计[J].南方农机,2024,55(2):159-161+171. 

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